


面積法晶粒度

奧林巴斯測量顯微鏡STM7

Linkam顯微鏡熱臺

DSX1000數碼顯微鏡

正立式BX53M奧林巴斯金相顯微鏡

PCB電鍍分布能力

普及型GX53奧林巴斯倒置顯微鏡

研究型連續變倍SZX系列

光源以及配件

圖譜對照

即時景深擴展(EFI)

DP27

偏光顯微鏡BX53P

普及型連續變倍SZ系列

Presi制樣設備

簡易型BXFM

OLS5100激光共焦顯微鏡

奧林巴斯清潔度分析系統

層厚度測量

清潔度分析系統CIX100

輔助聚焦裝置

汽車行業質量控制

夾雜物最惡劣視場法

Prior程序控制電動載物臺

截點法晶粒度

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自動聚焦裝置

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鑄鐵

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奧林巴斯測量顯微鏡
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